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TDK重要意義、MURATA村田MLCC貼片電容焊接不良的原因

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(TDK、MURATA村田)MLCC貼片電容焊接不良有存在以下幾點(diǎn)原因

1深化涉外、MLCC貼片電容若放置太久體系,儲(chǔ)存條件潮濕或其它原因,容易出現(xiàn)氧化開展試點,就會(huì)影響貼片電容的可焊性合理需求。

2、不良的原因和焊盤(pán)還有焊膏也有關(guān)系充分發揮。

3高質量、焊接溫度的影響充分發揮,在焊接工藝上可能用的是回流焊,這種焊接方式在溫度的控制上與時(shí)間的控制上管理,如果稍有偏差就會(huì)出現(xiàn)焊接不良設計,有的時(shí)候溫度高一點(diǎn)就不會(huì)出現(xiàn)焊接不良的現(xiàn)象。

4改進措施、0805以下封裝貼片電容可以用波峰焊就此掀開,1206以上封裝建議用回流焊。嚴(yán)禁用波峰焊今年。

 

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